JEDEC規格一覧

JESD22-A103C

The test is applicable for evaluation, screening, monitoring, and/or qualification of all solid state devices. High Temperature storage test is typically used to determine the effect of time and temperature, understorage conditions, for thermally activated failure mechanisms of solid state electronic devices, includingnonvolatile memory devices (data retention failure mechanisms). During the test elevated temperatures(accelerated test conditions) are used without electrical stress applied. This test may be destructive,depending on Time, Temperature and Packaging (if any).

JESD22-A103C規格に対応可能な企業

ナノサイエンス株式会社 【東京都豊島区】
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【表面分析、信頼性試験の受託】各種表面分析(不純物分析、組成分析、形態観察/構造解析)及び、EIAJ規格、JEDEC規格、MIL規格などに対応した電子部品の環境試験、ESD試験などを実施。標準試料も販売。

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