JEDEC規格一覧

JESD22-A103C

The test is applicable for evaluation, screening, monitoring, and/or qualification of all solid state devices. High Temperature storage test is typically used to determine the effect of time and temperature, understorage conditions, for thermally activated failure mechanisms of solid state electronic devices, includingnonvolatile memory devices (data retention failure mechanisms). During the test elevated temperatures(accelerated test conditions) are used without electrical stress applied. This test may be destructive,depending on Time, Temperature and Packaging (if any).

JESD22-A103C規格に対応可能な企業

中央電子工業株式会社 【熊本県宇城市】
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自社で製造する半導体、人工衛星などに使用される高信頼度製品で培った試験・評価技術/設備をもとに、信頼性試験や高信頼度製品の評価を受託します。MIL-STD-202/750/883をはじめとする各種試験規格にも対応できます。

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