JESD22-A122規格

This Test Method establishes a uniform method for performing component package power cycling stres test. This specification covers power induced temperature cycling of a packaged component, simulating the non-uniform temperature distribution resulting from a device powering on and off in the application.

JESD22-A122に対応可能な企業

中央電子工業株式会社 【熊本県宇城市】
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