理化学分析・機器分析

有機分析

定性分析 受託 定量分析 受託 赤外分光分析 受託機器
核磁気共鳴分析(NMR) 受託機器 ガスクロマトグラフ分析(GC) 受託 イオンクロマトグラフ分析(IC) 受託機器
液体クロマトグラフ分析(HPLC) 受託機器 ゲル浸透クロマトグラフ分析 受託機器 紫外・可視分光分析(UV-VIS) 受託機器
検知管分析 受託 キャピラリー電気泳動分析(CE) 受託機器 昇温ガス分析 受託
フーリエ変換赤外分光分析(FT-IR) 受託機器 ガスクロマトグラフ質量分析(GC/MS) 受託機器 フーリエ変換赤外分光光度計/ガスクロマトグラフ(GC/FT-IR) 受託機器
液体クロマトグラフ質量分析(LC/MS) 受託機器 フーリエ変換核磁気共鳴分析(FT-NMR) 受託機器 X線回折(XRD) 受託機器

無機分析

質量分析 受託機器 容量分析 受託 組成分析 受託
湿式分析 受託 放射化分析 受託 不純物分析 受託
グロー放電質量分析(GDMS) 受託機器 超微量分析 受託 原子吸光光度分析(AA) 受託機器
X線回折(XRD) 受託機器 メスバウア分光分析 受託 蛍光X線分析(XRF) 受託機器
アーク発光分光分析 受託 プラズマ発光分光分析(ICP) 受託機器 誘導結合プラズマ質量分析(ICP-MS) 受託機器
安定同位体比分析 受託 レーザー照射型 誘導結合プラズマ質量分析(LA-ICPMS) 受託 ガス成分分析(IGA) 受託
誘導結合プラズマ発光分光分析(ICP-OES) 受託機器 誘導結合プラズマ発光分光分析(ICP-AES) 受託機器 二結晶型高分解能蛍光X線分析(HRXRF) 受託機器
X線吸収微細構造解析法(XAFS) 受託機器        

表面分析

表面粗さ測定 受託機器 接触角測定 受託機器 オージェ電子分光分析(AES) 受託機器
二次イオン質量分析(SIMS) 受託機器 昇温脱離ガス分析 受託 X線光電子分光分析(XPS) 受託機器
化合物分布分析 受託 元素分布分析 受託 水素前方散乱分析 受託
ラザフォード後方散乱分析(RBS) 受託機器 レーザーラマン分析 受託機器 電子線マイクロアナリシス分析(EPMA) 受託機器
走査型プローブ顕微鏡分析(SPM) 受託機器 飛行時間型二次イオン質量分析(TOF-SIMS) 受託機器 電界放出型電子プロ-ブマイクロアナライザ分析(FE-EPMA) 受託機器
ナノ-エレクトロスプレイ質量分析(ESI-MS) 受託機器 低エネルギーX線分析(LEXES) 受託 原子間力顕微鏡分析(AFM) 受託機器
広がり抵抗測定(SRP) 受託        

構造解析

結晶構造解析 受託 ラマン分光分析(RAMAN) 受託機器 収束電子線回折 受託
蛍光分光測定 受託機器 NMR解析 受託機器 顕微FT-IR解析 受託機器
電子スピン共鳴解析 受託 分光エリプソメトリー解析 受託 微小角入射X線散乱解析(GIXS) 受託機器
オプティプローブ解析 受託 フォトルミネッセンス解析 受託 電子線エネルギー損失分光解析 受託
カソードルミネセンス解析 受託 メスバウワー解析 受託 化学状態解析 受託

形態観察

透過型電子顕微鏡観察(TEM) 受託機器 走査型電子顕微鏡観察(SEM) 受託機器 電界放射型走査電子顕微鏡観察(FE-SEM) 受託機器
走査透過電子顕微鏡(STEM) 受託 集束イオンビーム加工観察(FIB) 受託機器 共焦点顕微鏡観察 受託機器
レーザー顕微鏡観察 受託機器

物性解析

示差走査熱量測定(DSC) 受託機器 示差熱熱重量同時測定(TG/DTA) 受託機器 熱膨張測定(TMA) 受託機器

その他

熱分析 受託機器 機器分析 受託 残留応力測定 受託
含水率測定 受託 燃料分析 受託 組織分析 受託
イオン分析 受託 比重試験 受託 熱膨張率測定 受託機器
高分子化学物性試験 受託 熱特性試験 受託 金相学試験 受託
顕微鏡組織試験 受託 熱物性測定 受託 分子量測定 受託
粉体特性測定 受託 劣化測定 受託 焼入れ性測定 受託
高分子熱物性試験 受託 X線反射率測定(XRR) 受託    
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