ヒートサイクル試験の条件

ヒートサイクル試験とは

ヒートサイクル試験装置

恒温恒湿槽
細谷火工株式会社様 提供)

製品・試料を高温・低温環境下に繰り返しさらすことで、温度変化に対する試料の物理的・機械的特性の変化を観測する試験です。

温度変化をかけることで、膨張と収縮のストレスを繰り返し与えられた製品は膨張率の違いから、寸法変化、はがれ、亀裂、充填剤の漏れなどの疲労的破壊が起こり物理的特性が変化したり、動作に影響を及ぼして機械的特性が変化したり、また損傷・破壊など恒久的に変化します。
この温度変化を繰り返すことによって、製品を加速劣化させて耐久性を評価します。

温度の変化は熱衝撃試験と比べると緩やかで、実際の温度変化に近い環境試験となっています。

また、ヒートサイクル試験は、半導体や電子部品の耐久性評価にも利用されます。集積回路を構成している多様な物質はそれぞれ異なる熱膨張率を持っているため、温度変化により、熱膨張率の違いから生じる機械的なストレスを増加させます。

ヒートサイクル試験の用途
  • 各種製品・材料の不良品の再現
  • 各種製品・材料の変更による信頼性・耐久性の評価確認
  • 各種製品・材料の温度変化で生じる割れ・漏れの確認
  • 異種材料溶接等の評価
類似試験

ヒートサイクル試験に対応可能な企業

ヒートサイクル試験に関係する試験・規格情報の紹介

信頼性評価試験に関係する情報を、「信頼性評価コーナー」にて紹介しています。ご参照ください。

信頼性評価コーナー

ヒートサイクル試験に用いる装置

  • ヒートサイクル試験機

    製品を高温および低温の気槽空間内に放置し、繰り返し温度変化を短時間に与えることにより、試験品の信頼性・耐久性を評価・調査するヒートショック試験(冷熱衝撃試験)します。

関連規格

JIS C60068-2-14
環境試験方法-電気・電子-第2-14部:温度変化試験方法(試験記号:N)
JIS C60068-2-30
環境試験方法-電気・電子-第2-30部:温湿度サイクル(12+12時間サイクル)試験方法(試験記号:Db)
JIS C60068-2-38
環境試験方法-電気・電子-第2-38部:温湿度組合せ(サイクル)試験方法(試験記号:Z/AD)
JIS Z2279
金属材料の高温低サイクル疲労試験方法
IEC 60068-2-14
環境試験-第2-14部:試験-試験N:温度変化
IEC 60068-2-30
環境試験-第2部:試験。試験Db及び指針:温湿度サイクル(12+12時間サイクル)に関する規格。
IEC 60068-2-38
環境試験-第2部:試験。試験Z/AD:温湿度組合せサイクル試験
JESD22-A104E
TEMPERATURE CYCLING
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