Powered by Google

沖エンジニアリング株式会社 設備一覧

受託試験・技術情報はこちら

問い合わせ
大項目 装置名 略称、別称 メーカー
機械的性能試験装置 動電形振動試験機   振研
振動試験機(ランダム)   エミック
衝撃試験機   エミック
複合試験機   エミック
引張試験機   島津製作所
精密荷重測定器   アイコーエンジニアリング
ダイシェア試験装置   アイコーエンジニアリング
ワイヤボンドプルテスター   ユニテックイクイプメント
環境試験装置 恒温槽   エスペック
恒温器   エスペック
低温槽   エスペック
超低温恒温器   エスペック
恒温恒湿槽   エスペック
恒温恒湿器   エスペック
熱衝撃槽 サーマルショックテスター エスペック
液槽式熱衝撃槽 液槽式サーマルショックテスター 楠本化成
高速加速寿命試験装置 PCT、PCBT、HAST
プレッシャークッカー試験装置
エスペック
耐候性試験機   スガ試験機
散水試験機   スガ試験機
塵埃試験機   スガ試験機
フロー式ガス腐食試験機   ファクトケイ
ガス腐食試験機   ファクトケイ
塩水噴霧試験機   板橋理化
ダイナミックバーンイン装置   OEG
TKS自動半田溶融槽   田村製作所
ICテスタ システムLSIテストシステム   アドバンテスト
VLSIテストシステム   アドバンテスト
メモリテストシステム   アドバンテスト
リニアICテストシステム リニアICテスタ エム・エス・ディー
電圧・電流・抵抗測定器 デジタルマルチメータ DMM アドバンテスト
エレクトロメータ 電位計 アドバンテスト
ミリオームメータ   YHP、日置電機
絶縁抵抗計   YHP
デジタル高抵抗測定システム   アドバンテスト
カーブトレーサ   テクトロニクス
プログラマブルパワーカーブトレーサ   ソニーテクトロ
回路素子測定装置 LFインピーダンスアナライザ   YHP
半導体素子測定器 半導体測定器   アドバンテスト
絶縁耐圧試験器   高砂製作所
光パワーメータ   安立
波形測定器 デジタルストレージオシロ DSO ソニーテクトロ
オシロスコープ   テクトロニクス
デジタルオシロスコープ   ソニーテクトロ
ロジックアナライザ(サンプルデジタイジングオシロ)   YHP
光通信測定器 光ロス・アナライザ   HP
元素分析装置 電子線マイクロアナライザ EPMA、XMA 島津製作所
誘導結合プラズマ発光分光分析装置 ICP-AES
ICP発光分光分析装置
セイコー電子工業
プラズマ質量分析装置 ICP-MS
ICP質量分析装置
セイコー電子工業
原子吸光/フレーム/フレームレス分光光度計 AA セイコー電子工業
構造解析装置 透過形電子顕微鏡 TEM、STEM 日立製作所
フーリエ変換赤外分光光度計 FT-IR 島津製作所
観察装置 走査形電子顕微鏡 FE-SEM 日本電子
X線検査装置   東芝FA
超音波探査映像装置 SAT 日立建機
ホットエレクトロン解析装置   浜松ホトニクス
光学顕微鏡   ニコン
メジャースコープ   ニコン
デジタルマイクロスコープ   キーエンス
物理・化学的分析装置 収束イオンビーム装置 FIB セイコー電子工業
熱分析装置 TA セイコー電子工業
イオンクロマトグラフ IC ダイオネックス
試験設備 静電耐量試験器   阪和電子工業
デジタルソルダーグラフ はんだぬれ性試験装置 タムラ製作所
デバイス環境試験装置   サーモニクス