ナノサイエンス株式会社 設備一覧

大項目 装置名
化学分析関連 ICP発光分光分析装置
蛍光X線分析装置
ガスクロマトグラフ分析装置
C・S分析装置
O・N分析装置
H分析装置
物性試験関連 走査電子顕微鏡
電子線マイクロアナライザ
透過電子顕微鏡
X線回折装置
表面粗さ測定装置
顕微鏡FT-IR
表面物理分析手法 二次イオン質量分析装置
飛行時間型二次イオン質量分析装置
全反射蛍光X線分析装置
ラザフォード後方散乱分析装置
水素前方散乱分析装置
核反応分析装置
X線光電子分光装置
オージェ電子分光装置
走査型電子顕微鏡
原子間力顕微鏡
フーリエ変換赤外分光分析装置
ラマン分光分析装置
透過型電子顕微鏡
グロー放電質量分析装置
高周波誘導結合プラズマ発光分析装置
低エネルギーX線分析装置
広がり抵抗測定装置
アウトガス測定装置
電子プローブ微小部分析装置
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