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ナノサイエンス株式会社 設備一覧
| 大項目 | 装置名 |
|---|---|
| 化学分析関連 | ICP発光分光分析装置 |
| 蛍光X線分析装置 | |
| ガスクロマトグラフ分析装置 | |
| C・S分析装置 | |
| O・N分析装置 | |
| H分析装置 | |
| 物性試験関連 | 走査電子顕微鏡 |
| 電子線マイクロアナライザ | |
| 透過電子顕微鏡 | |
| X線回折装置 | |
| 表面粗さ測定装置 | |
| 顕微鏡FT−IR | |
| 表面物理分析手法 | 二次イオン質量分析装置 |
| 飛行時間型二次イオン質量分析装置 | |
| 全反射蛍光X線分析装置 | |
| ラザフォード後方散乱分析装置 | |
| 水素前方散乱分析装置 | |
| 核反応分析装置 | |
| X線光電子分光装置 | |
| オージェ電子分光装置 | |
| 走査型電子顕微鏡 | |
| 原子間力顕微鏡 | |
| フーリエ変換赤外分光分析装置 | |
| ラマン分光分析装置 | |
| 透過型電子顕微鏡 | |
| グロー放電質量分析装置 | |
| 高周波誘導結合プラズマ発光分析装置 | |
| 低エネルギーX線分析装置 | |
| 広がり抵抗測定装置 | |
| アウトガス測定装置 | |
| 電子プローブ微小部分析装置 |