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株式会社コベルコ科研 設備一覧

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よくご利用いただく設備

● 静的試験

装置名 荷重(kN) ストローク(mm) 荷重速度(mm/min) 型式・特記仕様
100kNオートグラフ 100 650 ≦1,000 クライオスタッド付き(≦4K)
1MN万能試験機 1,000 250 ≦95 ≦800℃高温引張試験可
3MN構造物試験機 3,000 500 ≦50 最大クロスヘッド間隔:6m、曲げスパン6m
30MNテストリグ 30,000 450 ≦10 引張専門、ピン間隔:5m
静的テストベッド 構造:H形鋼の格子構造、広さ:18.6m×12.6m、曲げ耐力:500kNm/n
静的油圧ジャッキ 5MN×2基、2MN×4基、1MN×6基、500kN×4基、200kN×2基、100kN×8基

● 構造物疲労試験

アクチュエータ 荷重(kN) ストローク(mm) 周波数(Hz) 型式・特記仕様
10kN ±10 ±50 20 電気油圧サーボ型
30kN ±30 ±50 電気油圧サーボ型
50kN ±50 ±250 電気油圧サーボ型
200kN ±200 ±150 電気油圧サーボ型
400kN ±400 ±250 30 0.6Hz、±200mm、10サイクル
650kN ±650 ±100 15 電気油圧サーボ型
2MN ±2,000 ±200 8 電気油圧サーボ型
動的テストベッド 構造:鉄筋コンクリート製、広さ:20m×13m、曲げ耐力:2MN・m/m
反力壁 構造:鉄筋コンクリート製、高さ:9m、幅:8m、曲げ耐力:2MN・m/m
2軸試験用フレーム 650kN×200kN、2MN×200kN、2MN×400kN、10MN×400kN

● 疲労試験

疲労試験機 荷重(kN) ストローク(mm) 周波数(Hz) 型式・特記仕様
0.1 ±0.1 ±25 0.01〜100 電磁加振式
1 ±1 ±25 20 電気油圧サーボ型
2 ±2
5 ±5
10 ±10
50 ±50 1基は500kN・mの捩り疲労可
100 ±100 MTS×3基、高周波加熱1,100℃×4基、熱疲労×1基、4K×1基
200 ±200 ±50 15 電気油圧サーボ型
400 ±400 ±25 20
600 ±600 ±50 15
クリープ疲労試験機 ±30 変位制御
±50 温度:750℃(電気炉)

● 衝撃試験

装置名 型式・特記仕様
落重衝撃試験装置 落下高さ:11m、重錘速度:50km/h、重錘重量:≦400kg
振子式衝撃試験装置 重錘重量:約1,000kg、衝突速度:≦15km/h
バリア衝突試験装置 模型車重量:約1,000kg、衝突速度:≦30km/h、落下重垂により模型車牽引

● 風洞試験

装置名 型式・特記仕様
風洞試験機 間口:1.2m×1.2m、風速:≦25m/sec

● クリープ試験

クリープ試験機 荷重 温度(℃) 加熱炉 型式・特記仕様
シングルタイプ 1.5 1,150 電気炉 直荷重式、重錘負荷
15 650 テコ式、重錘負荷
30 800
30 1,050
10 1,150
150 800
500 800
マルチタイプ 20 800 1連3本吊り
10 1,000 4連2本吊り
15 800 6連2本吊り
Arガス中 2.5 750 テコ式、重錘負荷
2.5 950 直荷重式、重錘負荷
15 750 直荷重式、重錘負荷
内圧クリープ 550気圧 1,000 Arガス負荷式

● その他

装置名 型式・特記仕様
大型振動台 最大加振力:63kN
水平/垂直2軸同時
周波数範囲:2〜500Hz
中型振動台 最大加振力:30kN
水平/垂直切替
周波数範囲:2〜2,500Hz
大型半無響室 室内寸法:19m×15m×8m(H)
残響室 室容積:178m3+180m3+134m3(地下)

材料分析分野

装置名
超微量分析用クリーンルーム(クラス1000)
超微量分析用クリーンドラフト(クラス100)
誘導結合プラズマ質量分析装置
誘導結合プラズマ発光分光分析装置
 ・同時積分型分析装置
 ・逐次積分型分析装置
 ・ガス分析用四重極質量分析装置
蛍光X線分析装置
光電測光式発光分光分析装置
エバート型回折格子分光写真器
原子吸光分析装置
黒鉛炉原子吸光分析装置
イオンクロマトグラフ
炭素・いおう分析装置
微量炭素分析装置
ガス分析用四重極質量分析装置
真空加熱型ガス分析装置
不活性ガス融解酸素・窒素・水素分析装置
不活性ガス融解アルゴン分析装置
不活性ガス融解水素分析装置
カールフィッシャ水分測定装置
定電位電解装置
定電流電解装置

有機分析分野

装置名
フーリエ変換赤外分光光度計
レーザーラマン分光光度計
ガスクロマトグラフ-質量分析計
熱分析-質量分析計
揮発性有機化合物濃縮・導入装置
核磁気共鳴装置
ガスクロマトグラフ
高速液体クロマトグラフ
分取用高速液体クロマトグラフ

環境分析分野

装置名
ガスクロマトグラフ・二重収束型質量分析装置
ガスクロマトグラフ・四重極型質量分析装置
揮発性有機化合物濃縮導入装置
ガスクロマトグラフ
高速液体クロマトグラフ
イオンクロマトグラフ
赤外分光光度計
蒸留分析装置
粒度分布測定装置
断熱熱量計
デジタル粉塵計
炭化水素測定計
窒素酸化物連続測定装置(煙道用、環境用)
一酸化炭素自動測定装置
二酸化炭素自動測定装置
オキシダント連続測定装置
大気中浮遊微粒子測定装置
放射収支計
無響室
残響室
騒音計
振動計

物理解析分野

装置名
超音波顕微鏡
エネルギー分散型X線検出器-走査電子顕微鏡
電界放射型-走査電子顕微鏡(結晶方位解析装置付)
分析電子顕微鏡
高分解能透過型電子顕微鏡
集束イオンビーム加工観察装置
X線回折装置
X線マイクロアナライザー
オージェ電子分光装置
X線光電子分光装置
2次イオン質量分析装置
高分解能ラザフォード後方散乱分析装置

物性試験分野

大項目 装置名
熱特性測定 示差熱分析装置(DTA、DSC):測定温度範囲 RT〜1500℃
熱膨張測定装置(TMA):測定温度範囲-100〜1200℃
レーザフラッシュ式熱定数測定装置:測定温度範囲 RT〜1200℃
熱天秤(TG):測定温度範囲 RT〜1500℃
自動変動記録装置(フォーマスタ):最高加熱温度1300℃、冷却速度200℃/s以下
加熱式自動変態記録装置(加工フォーマスタ):最高加熱温度1300℃、最大荷量20ton
電気磁気特性測定 電気抵抗測定装置:測定温度範囲 Lq.He、Lq.N〜1200℃
直流磁気磁束計
高周波磁気測定装置:測定周波数範囲 10Hz〜10MHz
振動試料型磁力計:最大印加磁界 15kOe
磁気異方性トルク計:最大印加磁界 20kOe
メスバウアー分光分析装置:測定温度範囲 Lq.Hz〜RT
応力測定 PSPC微小部X線応力測定装置:最小ビーム径 0.15
粘度測定 振動式粘度測定装置:融点〜1500℃ 20kOe
粉末特性測定 遠心自動粒度分布測定装置:粒度測定範囲002〜100μm
比表面積測定装置(MONOSORB):表面積0.02以上
ピクノメータ
薄膜特性測定 電気抵抗測定装置:抵抗測定範囲0.01Ω以上
薄膜応力測定装置:試験片の最大寸法6インチ
光交流法熱定数測定装置:試験片の寸法5×10×0.01〜0.3

材料試験分野

大項目 装置名
静的試験装置 引張試験、圧縮試験、せん断試験
内圧試験
疲労試験装置 引張・圧縮疲労試験、曲げ疲労試験、せん断疲労試験
内圧疲労試験
疲労き裂伝播試験
回転曲げ疲労試験
高速ねじり疲労試験
板曲げ疲労試験
振動試験装置 加振力:6.5tf(水平・垂直2軸同時加振)、3tf
破壊靱性試験装置 K IC、J IC、K Id、K Ia 試験
曲げCOD試験、ESSO試験、ディープノッチ試験
クリープ試験 クリープレイト試験、クリープラプチャー試験、クリープき裂進展試験
ミニチュアクリープ試験
内圧クリープ試験
クリープ疲労試験
硬さ試験機 ビッカース
ショアー、ロックウェル、ブリネル、スーパーフィッシャル
衝撃試験装置 構造物衝撃試験
シャルピー試験
アイゾット試験
落重試験
摩擦摩耗試験機 本田式摩擦摩耗試験機
西原式摩擦摩耗試験機
プラスチック用摩擦摩耗試験機
熱サイクル試験装置 拘束溶接熱サイクル再現試験

腐食・防食試験分野

装置名
定荷重応力腐食割れ試験装置
液体アンモニア中応力割れ試験装置
飽和硫化水素溶液中水素誘起割れ・硫化物応力腐食割れ試験装置
各種薬液中腐食疲労試験装置
オゾンウェザー試験装置
カーボンアーク式サンシャインウェザー試験装置
塩水噴霧腐食試験装置
複合腐食試験装置(塩水噴霧-乾燥-湿潤サイクル)
乾湿繰り返し腐食試験装置(湿潤-乾燥-温度サイクル)
微量ガス腐食試験装置
キャビテーションエロージョン試験装置
ジェットエロージョン試験装置
砂落とし摩耗試験装置
伝熱面電気化学的測定装置
摩擦摩耗式電気化学測定装置(回転電極測定装置)
表面粗度測定装置
表面皮膜厚測定装置
光沢・色差測定装置

溶接試験分野

大項目 装置名
溶接機 被覆アーク溶接機
サブマージアーク溶接機
半自動溶接機(MAG、MIG、TIG溶接機)
自動TIG溶接装置
片面自動溶接装置
アーク溶接ロボット
電子ビーム溶接装置(60kW)
レーザ溶接装置(CO2レーザ5kW)
スポット溶接機
溶接割れ試験機・治具 C型治具突合せ溶接割れ試験治具
バレストレイン割れ試験機
落重試験機
拘束溶接熱サイクル再現装置  
非破壊試験装置 放射線透過試験装置
超音波探傷試験装置
磁粉探傷試験装置
染色浸透探傷器具
応力測定装置 X線応力測定装置
歪ゲージ式応力測定装置