株式会社島津テクノリサーチ 設備一覧

大分類 装置名
無機元素分析 高周波プラズマ発光分析装置(ICP-AES)
高周波プラズマ質量分析装置(ICP-MS)
原子吸光光度計(AA)
波長分散型蛍光X線分析装置(XRF)
エネルギー分散型蛍光X線分析装置(EDX)
微小部エネルギー分散型蛍光X線分析装置(μ-EDX)
自動燃焼-イオンクロマトグラフシステム
加熱気化全自動水銀測定装置
全有機体炭素計(TOC)
有機クロマト分析 ガスクロマトグラフ(GC)
ガスクロマトグラフ質量分析装置(GCMS)
ヘッドスペース-ガスクロマトグラフ(HS-GC)
ヘッドスペース-ガスクロマトグラフ質量分析装置(HS-GCMS)
熱分解-ガスクロマトグラフ質量分析装置(PY-GCMS)
加熱脱離-ガスクロマトグラフ質量分析装置(TD-GCMS)
液体クロマトグラフ(HPLC)
液体クロマトグラフ質量分析装置(LC-MS)
イオンクロマトグラフ(IC)
アミノ酸分析システム
有機酸分析システム
還元糖分析システム
形態観察
表面分析
マイクロフォーカスX線CT
マイクロフォーカスX線透視
超音波顕微鏡
デジタルマイクロスコープ
電子線マイクロアナライザー(EPMA)
走査型プローブ顕微鏡(SPM)
雰囲気制御走査型プローブ顕微鏡(WET-SPM)
走査型共焦点レーザー顕微鏡(OLS)
ナノサーチ顕微鏡(SFT)
分析走査電子顕微鏡(SEM-EDS)
物性測定
化合物解析
粉体物性 レーザー回折式粒度分布測定装置(SALD)
動的光散乱式粒度分布測定装置
ゼータ電位測定装置(電気泳動法)
乾式自動密度計(定容積膨張法)
細孔分布測定装置(水銀圧入法)
比表面積測定装置(ガス吸着法)
比表面積/細孔分布測定装置(ガス吸着法)
微小圧縮試験機(MCT)
熱物性 熱重量測定装置(TGA)
示差走査熱量計(DSC)
示差熱・熱重量同時測定装置(DTG)
熱機械分析装置(TMA)
燃焼式自動ボンベ熱量計
化合物解析 赤外分光光度計(FTIR)
赤外顕微鏡システム(AIM)
顕微ラマン分光光度計
紫外・可視・近赤外分光光度計(UV-VIS-NIR)
蛍光分光光度計(RF)
X線回折装置(XRD)
その他 流動特性評価装置(CFT)
濡れ性評価装置
音叉型振動式粘度計(静粘度)
材料試験
万能試験機(UH)
オートグラフ(AG)
マイクロオートグラフ(MST)
小型卓上試験機(EZGraph-EZTest)
疲労試験機(サーボパルサ)
電磁力式微小材料試験機(マイクロサーボ)
高速衝撃試験機(HITS)
高速引張試験機(HITS)
高速度ビデオカメラ(HPV)
微小硬度計(HMV)
ダイナミック超微小硬度計(DUH)
におい におい識別装置(FF)
におい嗅ぎ付きガスクロマトグラフ質量分析装置
においセンサ
その他 VOC等放散試験設備
燃焼試験設備
自動油脂酸化安定性試験装置
カールフィッシャー水分計
プラスチック燃焼試験機(JISK7217対応)
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