X線吸収微細構造解析装置(XAFS)とは

X線特性吸収スペクトルが吸収される付近で起こる原子によるゆらぎを測定する装置で、X線を用いて物質の構造や性質を解析する装置の一種。


X線吸収微細構造解析装置(XAFS)で対応可能な試験・分析

X線吸収微細構造解析装置(XAFS) 取り扱い企業

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