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開発担当者が今すぐ頼れる！
信頼性試験特集

信頼性試験の委託先選びや試験対応にお困りの方へ

設備・ノウハウ・時間の不足、試験結果への不満、委託条件の課題など、
開発段階での悩みに応える企業や試験内容をご紹介。

製品の品質向上と信頼性確保に向けたヒントをお届けします。

技術革新の加速にどう対応する？
開発現場の課題とその打開策

設計・製造、ソフトウェア開発の領域は、技術革新のスピードが非常に速く、市場競争が激化しています。
時間的制約が厳しい中で、「故障要因を迅速に洗い出し、高品質を担保する設計の裏付けを取ること」は、全ての研究開発者にとって喫緊の課題です。
しかし現場では、次のような困りごとが多く見られます。

  • 情報過多で
    追いつけない     アイコン1

    新しい技術や素材に関する論文・特許が膨大で、情報収集と学習に時間が追いつかない

  • 評価方法が
    定まらない     アイコン2

    新素材や試作機の性能を測るための社内評価方法が確立されておらず、手探りでの検証が必要になる

  • データが
    活かせない     アイコン3

    膨大な実験データの整理や共有に手間取り、過去の知見が活かされず無駄な業務が発生しがち

  • 成果と探究の
    板挟み     アイコン4

    腰を据えた研究が必要な一方、会社からは短期的な成果を求められ、予算確保や開発スピードの板挟みに合う

  • 専門領域が
    広がりすぎる     アイコン5

    自身の専門性に加え、化学・電気・情報など分野横断的な知識が求められ、担当領域が広がり続けている

これらの課題とニーズに応えるため、技術者向け情報サイト「試験分析ドットコム」では
【開発担当者が今すぐ頼れる！信頼性試験特集】 を企画いたしました。

本特集は、試験委託先を探している研究開発者に向けて、信頼性試験に関する技術情報や外部委託のメリットを発信し、試験機関とのマッチングを目指します。

対応情報

信頼性評価の対応企業紹介

信頼性評価の流れ

  1. 試作段階
  2. 研究開発段階
  3. 量産段階

信頼性評価の対象

各種電子部品（IC・実装基板・ダイオード・トランジスタ）、受動部品（抵抗・コンデンサ・コイル）や、ユニット・モジュール・電子機器等

  • アイコン：車載用機器

    車載用機器

  • アイコン：医療機器部品

    医療機器部品

  • アイコン：一般機器部品

    一般機器部品

電子・半導体部品の信頼性評価項目一覧

電子部品や半導体部品は、わずかな環境変化や長期使用によって性能が劣化することがあります。信頼性評価試験では、温度・湿度・振動・電気的ストレスなど、さまざまな条件下で部品の耐久性・安定性・寿命を検証します。製品の品質確保や不良低減、設計段階でのリスク把握に欠かせない各種試験項目を紹介します。

スクリーニング試験（初期不良検出）

試験名 主な対応規格 対応企業
バーンイン試験 JESD22-A108
ESD試験（静電気放電耐性）
恒温恒湿試験 JESD22-A101 株式会社ミズサワセミコンダクタ

エージング試験（寿命評価・加速劣化）

試験名 主な対応規格 対応企業
高温動作寿命試験（HTOL） JESD22-A108 沖エンジニアリング株式会社
高温放置試験
高温高湿試験（THB / HAST）
高温高湿バイアス試験（H3TRB）
温度サイクル試験（TC） / ヒートサイクル試験
温湿度サイクル試験
熱衝撃試験
通電寿命試験
パワーサイクル試験 沖エンジニアリング株式会社
はんだ接合寿命評価
はんだ耐熱性試験 沖エンジニアリング株式会社
はんだ付け性試験 沖エンジニアリング株式会社
フラックス残渣評価

電気・動作試験

試験名 主な対応規格 対応企業
温度衝撃試験（TST） テュフ ラインランド ジャパン株式会社
リフロー熱衝撃試験
プレッシャークッカー試験（PCT/HAST）
結露サイクル試験 株式会社UL Japan
紫外線・オゾン暴露試験
ガス腐食試験
塩水噴霧試験
低温放置試験（LTS）
材料特性評価（Tg, CTE, 吸湿）
  • JIS K7197（CTE）
  • JIS K7199（吸湿）
  • ASTM D3418（Tg）
吸湿特性評価
  • JIS K7209
  • ASTM D570
車載信頼性試験

環境・耐環境試験

試験名 主な対応規格 対応企業
サージ耐性試験
ラッチアップ試験 沖エンジニアリング株式会社
絶縁耐圧試験
  • JIS C2151
  • IEC 60664-1
  • UL 1577
 テュフ ラインランド ジャパン株式会社
漏れ電流試験
イオンマイグレーション試験
  • JIS C6481
  • JEITA ET-7406
  • IPC-TM-650 2.6.3.7
電源変動

機械・耐久性試験

試験名 主な対応規格 対応企業
振動試験
衝撃試験
落下試験
落下衝撃試験
定加速度試験
  • JESD22-B111
  • MIL-STD-883 2001
パッケージワープ測定

解析・非破壊検査

試験名 主な対応規格 対応企業
非破壊検査（X線透視/μ-CT）
  • JEITA ET-7409
  • IPC-A-610
  • ASTM E1570
 沖エンジニアリング株式会社
外観検査
  • JEITA ED-4701
  • JIS Z2500
  • IPC-A-610
超音波探査（SAT） 各種分析規格
走査型電子顕微鏡観察（SEM） 各種分析規格
電子線マイクロアナリシス分析（EPMA） 各種分析規格 沖エンジニアリング株式会社
集束イオンビーム加工観察（FIB） 各種分析規格
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動画

書籍・カタログのご案内

設備

試験場のご案内

日本地図
社名 北海道
・東北		 関東 中部 関西 中四国 九州
・沖縄
沖エンジニアリング株式会社 ○ ●        
株式会社Wave Technology       ●    
株式会社UL Japan   ● ○      
テュフ ラインランド ジャパン株式会社   ●   ○    
IMV株式会社   ○ ○ ●    
一般財団法人　日本品質保証機構   ● ○ ○    
J-RAS株式会社   ●        
東信電気株式会社   ●        
ファクトケイ株式会社   ●        
ユーロフィンEAG株式会社   ●        
テュフズードジャパン株式会社   ●        
アルス株式会社 ●          
株式会社ミズサワセミコンダクタ ●          
株式会社エクセル電子         ●  

※拠点種別を ●：本社、○：支社 として記載しています

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ニーズの高まりを受け信頼性評価試験の対応が可能な企業の参加を募集しています。お気軽にお声がけください。

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