信頼性評価コーナー

信頼性評価試験とは

電子部品や電子機器の初期故障を低減させる目的で、量産前の試作段階の部品に一定のストレスを加えることにより、潜在欠陥または不良品を除去するための試験です。

電子部品を対象に行うスクリーニング試験や、電子機器を対象に行うエージング試験があります。
信頼性評価の過程で、不合格品(故障摘出)したものに対しては不良解析を実施し、結果をフードバック。これらの取り組みを実施することで、製品の品質向上、トータルコスト削減に貢献されます。

新着情報

新たな参加企業

信頼性評価の対象

各種電子部品(IC・実装基板・ダイオード・トランジスタ)、受動部品(抵抗・コンデンサ・コイル)や、ユニット・モジュール・電子機器等

信頼性評価の流れ

  1. 研究段階
  2. 試作段階
    • 信頼性評価
    • 不良解析
  3. 量産段階

スクリーニング試験/エージング試験内容

分類 試験名 対応企業数
目視 X線CT 3社
走査型電子顕微鏡観察(SEM) 3社
超音波探査(SAT) 2社
外観検査 3社
環境ストレス 低温放置試験低温試験/低温保存試験/低温動作試験 5社
高温放置試験(高温試験/高温保存試験/高温動作試験) 3社
高温高湿放置試験(高温高湿試験/高温高湿保存試験) 9社
温度サイクル試験ヒートサイクル試験/定速温度変化試験 7社
温湿度サイクル試験 10社
熱衝撃試験(ヒートショック試験・冷熱衝撃試験) 11社
恒温恒湿試験 2社
プレッシャークッカー試験(温湿度試験) 10社
結露サイクル試験 4社
耐久性 振動試験(固定・ランダム) 13社
落下衝撃試験 7社
定加速度試験 3社
電気的 電気的特性試験 3社
高温バイアス試験 3社
高温高湿バイアス試験(高電圧マイグレーション試験) 3社
HAST試験(不飽和加圧水蒸気試験[不飽和プレッシャークッカバイアス試験]/高度加速寿命試験[高加速度試験]) 3社
恒温恒湿バイアス試験 1社
バーンイン試験 4社
静電気試験(ESD試験) 7社
過渡サージ試験 7社
電源変動試験 5社

セミナー開催のご案内

試験場のご案内

ニーズの高まりを受け信頼性評価の対応が可能な企業の参加を募集しています。お気軽にお声がけください。

参加企業募集中
ページ上部へ