回路開放試験（対象：電子制御ユニット（ECU）・車載電装品）

回路開放試験（Open Circuit Test）は、電子制御ユニット（ECU）や車載電装品に接続された電源線や信号線、センサー配線などが断線した状態を模擬し、製品が安全な状態へ移行するとともに、異常を適切に検知・処理できるかを評価する電気的負荷試験です。配線の断線やコネクタの接触不良などを想定し、フェールセーフ機能や診断機能の有効性を確認します。

国際規格 ISO 16750-2 4.9、国内規格 JASO D014-2 4.9、欧州OEM規格 LV 124 では、回路開放状態を模擬する試験条件や評価方法が規定されており、断線時における安全性や機能維持、故障診断機能を評価します。

対応規格

• ISO 16750-2 4.9
• JASO D014-2 4.9
• LV 124（E-08）

※LV 124はISO 16750のような階層構造ではなく、Eカテゴリ内に複数の試験条件が定義されています。本ページでは回路開放試験に関連するカテゴリとして「E-08」を掲載しています。

製品の用途や接続回路に応じて、対象となる電源線・信号線・負荷回路など、適切な試験条件を設定することが重要です。

試験内容

各規格に対応した回路開放試験設備を保有する受託試験会社は、以下の一覧からご確認いただけます。