気密試験とは

半導体など電子機器の封止の気密性を評価する試験です。封止試験、リーク試験（リークテスト）と呼ばれることもあります。

密閉した気体が外部に洩れないこと、または減圧した内部に気体が流入しないことを評価します。
トレーサーガスにより微小リークを検出し、気泡により大リークを検出します。