エージング試験とは

エージング試験(経年変化試験)は、電気機器、電子部品・半導体に、適当な温度下で一定の電流を長時間かけることによる耐熱性及び耐久性を評価します。

本来は、電気的なストレスだけではなく、次のようなストレスを加えて潜在的な故障を早期に発見することが目的ですが、電流を加えることによるストレス評価のことを指すことが多くなっています。

  • 高温放置
  • 温度サイクル
  • ヒートショック
  • 衝撃試験
  • 電圧印加(連続通電、断続通電)
  • 高温通電
  • 温度サイクル通電またはヒートショック通電

特に電気機器、電子部品・半導体は、熱によって故障率が大幅に増大して、寿命を縮めることがわかっています。

最近では製品の小型化に伴って、機械や電子盤は小型化する一方、発熱は増加傾向のため、熱による影響を受けやすくなっており、寿命が大幅に縮まっています。そのため、エージング試験による過度ストレス下での耐久性評価の需要が高まっています。

エージング試験は目的によって2つに分けられます。

初期故障発見
製品を実際の使用環境と使用方法(適当な温度・一定の電流下)で一定時間放置することで、故障が起こるか、性能が発揮されているかを調べます。初期故障発見に役立ちます。
劣化加速して耐久性評価
熱や電気(広義には、高温低温、多湿、高負荷などを含む)の過度なストレスを長時間もしくは長期間連続で加えることで、劣化を加速させて耐久性を評価します。劣化加速させて、経年変化を早めて劣化を再現することで、製品の寿命を推測するのに役立ちます。

信頼性や製品工程の品質向上にともなって、短期間のエージング試験で発見できる初期故障はなくなりつつあり、耐久性評価の目的で行われることが多くなっています。

エージング試験に対応可能な企業

関連規格

JIS C60068-2-20
環境試験方法-電気・電子-第2-20部:試験-試験 T-端子付部品のはんだ付け性及びはんだ耐熱性試験方法
IEC 60068-2-20
環境試験方法-電気・電子-第2-20部:試験-試験 T-端子付部品のはんだ付け性及びはんだ耐熱性試験方法
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