粉体特性測定とは

レーザー回折散乱装置

レーザー回折散乱装置
株式会社島津テクノリサーチ様 提供)

比表面積測定装置

比表面積測定装置
株式会社島津テクノリサーチ様 提供)

粉体は、環境によって固体・液体・気体のような様々な性質を示すため、産業界では流動性、分散性、表面活性、帯電性、印字性能などさまざまな物性特性が求められます。そのため、粉砕・分級などの操作によって粒子の物性特性を変化させる技術が求められます。

粉体の物性値は、粒度分布、粒子形状、粉体表面積、熱特性、粒子結晶性、粉体流動性等があり、それぞれの測定方法を次に示します。

粒度分布測定法
レーザー回折法
液体あるいは気体中に分散させた粉体にレーザーを照射し、屈折・散乱光のパターンを測定し、粒度分布を得ます。短時間で測定できるが、粒子の分散状態により結果が異なるので注意が必要です。
動的光散乱法
ブラウン運動する粒子群から光散乱強度を測定し、その時間的強度変動から粒子径を求める方法です。
沈降法
流体中を落下する時の速度が、粒子の大きさ毎に違うことを利用した測定方法です。
電気抵抗法
粒子が細孔を通過したときの電気抵抗値が異なる事を利用した方法。粒子数をカウントできるので、体積分布と個数分布の両方の評価可能です。
比表面積・細孔分布測定法
ガス吸着法‐BET法
気体(窒素)を吸着・脱着させ単位重量あたりの粉体の表面積(比表面積)を測定したり、ガス分子の凝縮から細孔分布を測定する方法です。
水銀圧入法
水銀の表面張力が大きいことを利用して粉体の細孔に水銀を浸入させるために圧力を加え、圧力と圧入された水銀量から比表面積や細孔分布を求める方法です。
粒子形状測定法
撮像法
ストロボ光を照射して粒子を直接撮像する方法です。粒度分布のほか、粒子形状の解析も可能です。
電子顕微鏡法
1μm以下の粒度測定は各種測定器で原理的に難しいので、直接粒子の撮像・観察して統計データーを得ます。
ゼーダ電位測定法
ゼータ電位・粒子径測定法
ゼータ電位は液体中粉子の分散性の指標となります。帯電した粒子が分散している液体に外部から電場をかけ、粒子は電極に向かって泳動(移動)させ、その泳動速度を測定することによってゼータ電位を求める手法です。

粉体特性測定に対応可能な企業

粉体特性測定に用いる装置

関連規格

JIS Z8901
試験用粉体及び試験用粒子
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