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次世代パワートレイン（xEV・水素）
パワーモジュール（AQG-324・IGBT/SiCデバイスの断面解析）

電気自動車（EV）の航続距離延長や高電圧化に伴い、インバータの心臓部であるIGBTやSiCなどのパワーモジュールには、極めて高い信頼性と長寿命化が求められています。その世界的な評価基準として今や不可欠となっているのが、車載用パワーモジュールの信頼性試験規格である「AQG-324」です。

AQG-324規格は、車載電子部品の信頼性をさらに確保するために策定された規格で、特に自動車の安全性・長寿命化への要求に応えることを目的としています。AEC規格と同様に厳しい試験条件を前提としつつ、より実際の車載環境に即した評価方法を取り入れている点が特徴です。

自動車メーカーやサプライヤーが新製品を市場に投入する際の重要な判断基準となっており、今後の車載電子部品開発において欠かせない存在となっています。

本ページでは、AQG-324規格に準拠した試験を委託・相談できる企業をご紹介します。

お勧め企業

対応情報

AQG-324試験項目一覧

モジュール試験（Module Testing）

試験項目 No 対応企業
寄生浮遊インダクタンスの測定（Lp）
Determining parasitic stray
inductance (Lp)		 QC-01
熱抵抗の測定（Rth値）
Determining thermal resistance (Rth value)		 QC-02
短絡耐量の測定
Determining short-circuit capability		 QC-03
絶縁試験
Insulation test		 QC-04
機械的データの測定
Determining mechanical data		 QC-05

環境試験（Environmental Testing）

試験項目 No 対応企業
温度サイクル試験
Thermal shock test（TST）		 QE-01
接触性
Contactability（CO）		 QE-02
振動
Vibration（V）		 QE-03
機械的衝撃
Mechanical shock（MS）		 QE-04

寿命試験（lifetime Testing）

試験項目 No 対応企業
パワーサイクル試験（短時間）（ton < 5s）
Power cycling（Pcsec）		 QL-01
パワーサイクル試験（長時間）（ton > 15s）
Power cycle（PCmin）		 QL-02
高温保存試験
High-temperature storage（HTS）		 QL-03
低温保存試験
Low-temperature storage（LTS）		 QL-04
高温逆バイアス試験
High-temperature reverse bias（HTRB）		 QL-05 株式会社Wave Technology
動的逆バイアス試験
Dynamic reverse bias（DRB）		 QL-05a
高温ゲートバイアス試験
High-temperature gate bias（HTGB）		 QL-06 株式会社Wave Technology
動的ゲートストレス試験
Dynamic gate stress（DGS）		 QL-06a
高温高湿逆バイアス試験
High-humidity, high-temperature reverse bias（H3TRB）		 QL-07 株式会社Wave Technology
動的順バイアス試験
Dynamic high-humidity, high-temperature reverse bias（dyn. H3TRB）		 QL-07a
高温順バイアス試験
High-temperature forward bias（HTFB）		 QL-08
動的高温順バイアス試験
Dynamic high-temperature forward bias（dyn. HTFB）		 QL-08a

その他

試験項目 No 対応企業
モジュールテスト
Module test		 QM-01

カタログ・技術資料

注目の設備のご案内

試験場のご案内

地図
社名 北海道
・東北		 関東 中部 関西 中四国 九州・沖縄
株式会社Wave Technology       〇    
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