蛍光X線分析（XRF）とは

分析試料にX線を照射した時に発生する二次（蛍光）X線の強度を電気的に測定し、広い含有率領域で高い分析精度が得られる分析方法です。

試料に含まれているNa～Uの多元素を同時に測定することが可能で、樹脂製品の元素分析に活用されています。未知試料のときは、元素分析の結果だけでは何由来の添加剤かわからないため、樹脂製品から溶剤分別した分別物をIR分析、GC/MS分析等の結果とあわせることで、金属系の添加剤が分析できます。

蛍光X線分析（XRF）装置は波長分散型とエネルギー分散型に大別され、それぞれ次のような特徴があります。

波長分散型XRFの特徴

• 測定元素：Na～U
• 測定雰囲気：真空
• 測定径：30mmφ
• 検出感度：数ppm
• 試料形態：固体、粉体
• 前処理：成形プレス

エネルギー分散型XRFの特徴

• 測定元素：Na～U
• 測定雰囲気：真空、大気
• 測定径：1、3、10mmφ
• 検出感度：数十～数千ppm
• 試料形態：固体、粉体、液体
• 前処理：不要