蛍光X線分析(XRF)とは

分析試料にX線を照射した時に発生する二次(蛍光)X線の強度を電気的に測定し、広い含有率領域で高い分析精度が得られる分析方法です。

試料に含まれているNa~Uの多元素を同時に測定することが可能で、樹脂製品の元素分析に活用されています。未知試料のときは、元素分析の結果だけでは何由来の添加剤かわからないため、樹脂製品から溶剤分別した分別物をIR分析、GC/MS分析等の結果とあわせることで、金属系の添加剤が分析できます。

蛍光X線分析(XRF)装置は波長分散型とエネルギー分散型に大別され、それぞれ次のような特徴があります。

波長分散型XRFの特徴
  • 測定元素:Na~U
  • 測定雰囲気:真空
  • 測定径:30mmφ
  • 検出感度:数ppm
  • 試料形態:固体、粉体
  • 前処理:成形プレス
エネルギー分散型XRFの特徴
  • 測定元素:Na~U
  • 測定雰囲気:真空、大気
  • 測定径:1、3、10mmφ
  • 検出感度:数十~数千ppm
  • 試料形態:固体、粉体、液体
  • 前処理:不要

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