マイクロフォーカスX線CTとは

マイクロフォーカスX線CTは、材料にX線を色々な角度から照射し、透過像を撮影して、電子部品、回路基板などの対象試料や材料中の空隙や異物などの位置や大きさを、非破壊で3次元的に知ることができる分析法です。

他の非破壊解析（ロックイン赤外線発熱解析、超音波探傷検査、電気的特性検査など）と組み合わせて使用することにより、故障要素発見までのプロセス短縮や故障要素消失リスク低減になります。