高温バイアス試験とは

電子部品や半導体デバイスの信頼性を評価するための試験です。

デバイスを長時間、高温下において電子部品・機器に電気的ストレス(電圧、電流)を加え、その影響を評価し、耐久性や性能の変化を確認します。

高温バイアス試験に対応可能な企業

高温バイアス試験に関係する試験・規格情報の紹介

信頼性評価試験に関係する情報を、「信頼性評価コーナー」にて紹介しています。ご参照ください。

信頼性評価コーナー

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