低温保存試験の条件
-
株式会社ミズサワセミコンダクタ 岩手県奥州市装置仕様1
高温槽温度範囲 50⇔350℃ 低温槽温度範囲 -70⇔0℃ 装置仕様2高温槽温度範囲 60⇔200℃ 低温槽温度範囲 -70⇔0℃
低温保存試験とは
電子部品、材料の低温環境下における耐寒性を評価する試験です。製品のlong-term reliability（長時間における信頼性）の評価を目的としています。
耐寒性試験、低温放置試験、低温試験、LTS（Low Temperature Storage）とも言われます。
一方、高温環境下における耐熱性を評価する試験は、高温保存試験です。
低温保存試験に関係する試験・規格情報の紹介
低温保存試験に対応可能な企業
低温保存試験に用いる装置
関連規格
- JIS C60068-2-1
- 環境試験方法-電気・電子-第2-1部：低温（耐寒性）試験方法（試験記号：A）
- IEC 60068-2-2
- 環境試験 第2部 第2章：試験-高温（耐熱性）試験方法
お探しの企業が見つからなかった場合は、弊社のコーディネーターが代わりにお探しいたします
お気軽にご相談ください