低温保存試験とは

電子部品、材料の低温環境下における耐寒性を評価する試験です。製品のlong-term reliability(長時間における信頼性)の評価を目的としています。

耐寒性試験、低温放置試験、低温試験、LTS(Low Temperature Storage)とも言われます。

一方、高温環境下における耐熱性を評価する試験は、高温保存試験です。

低温保存試験に対応可能な企業

低温保存試験に用いる装置

関連規格

JIS C60068-2-1
環境試験方法-電気・電子-第2-1部:低温(耐寒性)試験方法(試験記号:A)
IEC 60068-2-2
Environmental testing-Part 2-1 : Tests-Test A : Cold
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