低温保存試験とは
電子部品、材料の低温環境下における耐寒性を評価する試験です。製品のlong-term reliability（長時間における信頼性）の評価を目的としています。
耐寒性試験、低温放置試験、低温試験、LTS（Low Temperature Storage）とも言われます。
一方、高温環境下における耐熱性を評価する試験は、高温保存試験です。
低温保存試験に対応可能な企業
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- 株式会社ミズサワセミコンダクタ[岩手県奥州市]
- 試作開発・量産品の品質評価のリードタイムの短縮に貢献します。各種信頼性評価～故障モード発生時の解析と分析まで。
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- テュフ ラインランド ジャパン株式会社[神奈川県横浜市]
- 国際的試験・認証機関 テュフ ラインランドグループの日本法人。第三者機関として、海外へ輸出される工業製品の安全試験・認証の提供や、国内向けの評価サービスを展開しています。
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- 地方独立行政法人神奈川県立産業技術総合研究所（KISTEC）[神奈川県海老名市]
- 90年以上にわたり技術課題の解決をサポート。広範な技術分野をカバーする80名以上の研究員がご相談に応じるとともに課題解決に向けてご提案します。
低温保存試験に関係する試験・規格情報の紹介
低温保存試験に用いる装置
関連規格
- JIS C60068-2-1
- 環境試験方法-電気・電子-第2-1部：低温（耐寒性）試験方法（試験記号：A）
- IEC 60068-2-1
- 環境試験 第2部 第1章：試験-低温（耐寒性）試験方法
- IEC 60068-2-2
- 環境試験 第2部 第2章：試験-高温（耐熱性）試験方法
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