試験・分析、規格一覧【規格一覧】

• IEC 17025
• IEC 5402-6-4
• IEC 60529
  • 塵埃試験
  • 粉塵試験
  • 防水試験
  • IP試験
• IEC 60533
• IEC 60068-2-1
  • 低温試験
  • 低温保存試験
  • 低温放置試験
• IEC 60068-2-2
  • 高温試験
  • 高温放置試験
  • 高温保存試験（HTS）
• IEC 60068-2-3
  • 高温高湿試験
• IEC 60068-2-5
• IEC 60068-2-6
  • 振動試験
  • 正弦波振動試験
• IEC 60068-2-7
• IEC 60068-2-11
  • 塩水噴霧試験
• IEC 60068-2-13
  • 低圧試験
• IEC 60068-2-14
  • 温度サイクル試験
  • 温度変化試験
  • 熱衝撃試験
  • ヒートサイクル試験
• IEC 60068-2-17
• IEC 60068-2-18
• IEC 60068-2-27
  • 衝撃試験
• IEC 60068-2-30
  • 温度サイクル試験
  • 結露サイクル試験
• IEC 60068-2-31
  • 落下衝撃試験（梱包落下）
  • 梱包物・包装材の輸送環境試験
  • 落下試験
  • 転倒試験
• IEC 60068-2-32
• IEC 60068-2-38
  • 温湿度サイクル試験
• IEC 60068-2-39
• IEC 60068-2-40
• IEC 60068-2-41
• IEC 60068-2-42
• IEC 60068-2-43
• IEC 60068-2-45
• IEC 60068-2-46
• IEC 60068-2-49
• IEC 60068-2-50
  • 振動試験
• IEC 60068-2-51
  • 振動試験
• IEC 60068-2-52
  • 塩水噴霧試験
  • 塩水噴霧サイクル試験
• IEC 60068-2-53
• IEC 60068-2-57
• IEC 60068-2-59
• IEC 60068-2-60
• IEC 60068-2-64
  • 振動試験
  • 広帯域ランダム振動試験
• IEC 60068-2-66
• IEC 60068-2-67
• IEC 60068-2-68
• IEC 60068-2-78
  • 高温高湿試験
• IEC 60068-2-82
• IEC 60068-3-3
• IEC 60068-3-4
• IEC 60079
• IEC 60086-4
• IEC 60512-11-7
• IEC 60512-11-14
• IEC 60601-1-2
• IEC 60601-2-2
• IEC 60601-2-4
• IEC 60601-2-5
• IEC 60601-2-6
• IEC 60601-2-10
• IEC 60601-2-16
• IEC 60601-2-18
• IEC 60601-2-21
• IEC 60601-2-24
• IEC 60601-2-25
• IEC 60601-2-27
• IEC 60601-2-30
• IEC 60601-2-34
• IEC 60601-2-35
• IEC 60601-2-37
• IEC 60601-2-40
• IEC 60601-2-41
• IEC 60601-2-46
• IEC 60601-2-47
• IEC 60601-2-49
• IEC 60601-2-50
• IEC 60601-2-52
• IEC 60601-2-55
• IEC 60601-2-56
• IEC 60601-2-61
• IEC 60645-1
• IEC 60695-2-2
• IEC 60695-2-10
• IEC 60695-2-11
• IEC 60695-2-12
• IEC 60695-2-13
• IEC 60747-5-13
• IEC 60749
• IEC 60945
• IEC 60974-10
• IEC 60990
• IEC 61000-3-2
  • EMC試験
• IEC 61000-3-3
  • EMC試験
• IEC 61000-4-2
  • EMC試験
• IEC 61000-4-3
  • EMC試験
• IEC 61000-4-4
  • EMC試験
• IEC 61000-4-5
  • EMC試験
• IEC 61000-4-6
  • EMC試験
• IEC 61000-4-8
  • EMC試験
• IEC 61000-4-9
  • EMC試験
• IEC 61000-4-11
  • EMC試験
• IEC 61000-4-39
  • 近接磁界に対するイミュニティ試験
• IEC 61000-4-21
• IEC 61000-6-1
• IEC 61000-6-2
• IEC 61000-6-3
• IEC 61000-6-4
• IEC 61000-6-7
• IEC 61000-6-8
• IEC 61131-2
• IEC 61300-2-19
• IEC 61326-1
• IEC 61326-2-1
• IEC 61326-2-2
• IEC 61326-2-3
• IEC 61326-2-6
• IEC 61326-3-1
• IEC 61340-5-1
• IEC 61340-5-2
• IEC 61373
  • 振動試験
  • 衝撃試験
• IEC 61547
• IEC 62133
• IEC 62133-1
• IEC 62133-2
• IEC 62233
• IEC 62236-3-2
• IEC 62236-4
• IEC 62311（Probe）
• IEC 62321
• IEC 62619
• IEC 62620
• IEC 63000:2018
• IEC 80601-2-26
• IEC/EN 60529
  • 防水・防塵試験
• IEC/EN 60695-11-10

電気分野（電子、通信、原子力などを含む）において各国の規格・標準の調整を行なう国際機関。1906年設立。スイスのジュネーブに本部を置く。電気分野以外の国際標準化機関はISOが担当。JIS規格制定の際もIECとの整合性を保つように調整されている。

• JEP140
• JEP172
  • ESD試験
• JESD22-A100C
• JESD22-A101
• JESD22-A102
• JESD22-A103
• JESD22-A104
• JESD22-A104 Appendix 6
• JESD22-A104D
• JESD22-A104E
• JESD22-A105
• JESD22-A106B
• JESD22-A108
• JESD22-A109
• JESD22-A110
• JESD22-A111（SMD）
• JESD22-A113
• JESD22-A114E
• JESD22-A115C
  • ESD試験
• JESD22-A118
• JESD22-A122B
• JESD22-B100
• JESD22-B100B
• JESD22-B101
• JESD22-B102
• JESD22-B102E
• JESD22-B103
• JESD22-B104
• JESD22-B105
• JESD22-B106（PTH）
• JESD22-B107
• JESD22-B108
• JESD22-JA-104
• JESD22-JB-100
• JESD24-3,24-4,24-6 as appropriate
• JESD35
• JESD51-14
  • ESD試験
• JESD60&28
• JESD61
• JESD61, 87, &202
• JESD78A
  • ラッチアップ試験
• JESD78B
  • ラッチアップ試験
• JESD78E
  • ラッチアップ試験
• JESD89
  • ラッチアップ試験
• JESD89-1
  • ラッチアップ試験
• JESD89-2
  • ラッチアップ試験
• JESD89-3
  • ラッチアップ試験
• JESD90
• JESD201
  • ウィスカ試験
• JESD219A
  • 不揮発性メモリーの最適評価

1958年に設立され、現在はEIA（米国電子工業会）の下部組織として活動している。いくつかの委員会に分かれ、半導体や電子部品の標準化を推進している。JEDECはIntelやNVIDIA、エルピーダメモリなど、200社以上の関連企業によって構成されている。

• AEC-Q005
• AEC-Q100-001
• AEC-Q100-002
• AEC-Q100-004
• AEC-Q100-009
• AEC-Q100-010
• AEC-Q100-011
• AEC-Q100-0005
• AEC-Q100-0008
• AEC-Q101-001
• AEC-Q101-003
• AEC-Q101-004 Section2
• AEC-Q101-004 Section3
• AEC-Q101-004 Section4
• AEC-Q101-005
• AEC-Q101-006
• AEC-Q200-001
• AEC-Q200-002
• AEC-Q200-003
• AEC-Q200-004
• AEC-Q200-004A
• AEC-Q200-005
• AEC-Q200-006

• ISO 105B-02
• ISO 105B-04
• ISO 1431
• ISO 1431-3
• ISO 2233
• ISO 2248
• ISO 2247
• ISO 2873
• ISO 3011
• ISO 3917
• ISO 4180
• ISO 7326
• ISO 4892-2
• ISO 7367-2
• ISO 7367-3
• ISO 8318
• ISO 9227
• ISO 10062
• ISO 10605
• ISO 11341
• ISO 11452 Series
• ISO 11452-2
• ISO 11452-3
• ISO 11452-4
• ISO 11452-5
• ISO 11452-8
• ISO 11452-9
• ISO 11452-10
• ISO 11452-11
• ISO 11607
• ISO 12048
• ISO 12405-1
• ISO 13355
• ISO 13766
• ISO 16750-1
  • 自動車部品一般試験
• ISO 16750-2
  • 直流電源電圧試験
  • 過電圧試験
  • 交流電圧付加試験
  • 電源電圧緩増減試験
  • 電圧急変動試験
  • 逆極性電圧試験
  • 基準接地及び電源オフセット試験
  • 回路開放試験
  • 回路短絡時保護試験
  • 耐電圧試験
  • 絶縁抵抗試験
  • 始動時電圧試験
  • ロードダンプ
• ISO 16750-3
  • 正弦波振動試験
  • ランダム振動試験
  • バンプ試験
  • 自然落下試験
• ISO 16750-4
  • 低温試験
  • 低温放置試験
  • 低温動作試験
  • 高温試験
  • 高温放置試験
  • 高温動作試験
  • 低温負荷試験
  • 高温負荷試験
  • ステップ温度変化試験
  • 熱衝撃試験
  • スプラッシュウォーター衝撃試験
  • 浸漬試験
  • 塩水噴霧試験
  • 腐食試験
  • 漏電及び機能試験
  • 温湿度サイクル試験
  • 結露サイクル試験
  • 温湿度組み合わせサイクル試験
  • 高温高湿定常試験
  • 塩水噴霧複合サイクル試験
  • 防水試験
  • 塵埃試験
• ISO 16750-5
  • 耐薬品性試験
• ISO 19453-1
• ISO 19453-3
  • 正弦波振動試験
  • ランダム振動試験
  • バンプ試験
  • 自然落下試験
• ISO 19453-4
  • 低温試験
  • 高温試験
  • 低温負荷試験
  • 高温負荷試験
  • 高温恒湿試験
  • 温湿度サイクル試験
  • 温度変化試験
  • 熱衝撃試験
  • 塩水噴霧試験
  • 塩水噴霧複合サイクル試験
  • 防水試験
  • 塵埃試験
  • 結露サイクル試験
• ISO 19453-5
  • 化学負荷（耐薬品）試験
• ISO 20653
  • IP試験
  • 防水試験
  • 塵埃試験
• ISO 20567-1
• ISO 7637-2
• ISO 7637-3
• ISO/DIS10605

• JASO D自動車部品シリーズ
• JASO D010-00
  • 静電気イミュニティ試験
• JASO D001
• JASO D001-94 5.7
• JASO D001-94 5.9
• JASO D007
• JASO D008
• JASO D011
• JASO D014
• JASO D014-2
• JASO D014-3
  • 正弦波振動試験
  • ランダム振動試験
  • バンプ試験
  • 自然落下試験
• JASO D014-4
  • 低温試験
  • 低温放置試験
  • 低温動作試験
  • 高温試験
  • 高温放置試験
  • 高温動作試験
  • 低温負荷試験
  • 高温負荷試験
  • ステップ温度変化試験
  • 熱衝撃試験
  • スプラッシュウォーター衝撃試験
  • 浸漬試験
  • 塩水噴霧試験
  • 腐食試験
  • 漏電及び機能試験
  • 温湿度サイクル試験
  • 結露サイクル試験
  • 温湿度組み合わせサイクル試験
  • 高温高湿定常試験
  • 塩水噴霧複合サイクル試験
  • 防水試験
  • 塵埃試験
• JASO D014-5
  • 耐薬品性試験
• JASO D616 5.1
  • 外観目視観察
• JASO D616 5.3
  • 端子圧着強度試験
• JASO D616 5.4
  • ロック解除力試験
• JASO D616 5.5
  • 端子挿入力試験
• JASO D616 5.6
  • 端子保持力試験
• JASO D616 5.7
  • 接触抵抗試験
• JASO D616 5.9
  • シール性試験
• JASO D616 5.10
  • 絶縁抵抗試験
• JASO D616 5.11
  • 耐電圧試験
• JASO D616 5.12
  • 温度上昇試験
• JASO D616 6.2
  • 外観目視観察
• JASO D616 6.4
  • 端子圧着強度試験
• JASO D616 6.5
  • ロック解除力試験
• JASO D616 6.6
  • 端子挿入力試験
• JASO D616 6.7
  • 端子保持力試験
• JASO D616 6.8
  • 接触抵抗試験
• JASO D616 6.10
  • シール性試験
• JASO D616 6.11
  • 絶縁抵抗試験
• JASO D616 6.12
  • 耐電圧試験
• JASO D616 6.13
  • 温度上昇試験
• JASO D616 6.16
  • 挿抜耐久試験
• JASO D616 6.17
  • コネクターの耐環境試験
• JASO D616 6.18
  • 高圧水噴射試験
• JASO D616 6.19
  • 複合環境試験
• JASO D616 6.20
  • 塩水噴霧試験
• JASO D616 6.22
  • 耐衝撃試験
• JASO D616 6.23
  • 熱衝撃試験
• JASO D616 6.24
  • 温湿度サイクル試験
• JASO D616 6.25
  • 落下衝撃試験
• JASO D616 6.26
  • 耐塵試験
• JASO D616 6.27
  • 耐薬品性試験
• JASO D616 6.28
  • 腐食ガス試験
• JASO M104
• JASO M346
• JASO M351
• JASO M609
• JASO M610

• MIL-PRF-27F
• MIL-PRF19500-TABLE E-VI-JANTX
• MIL-STD-202
• MIL-STD-202 Method 103
• MIL-STD-202 Method 108
• MIL-STD-202 Method 204
• MIL-STD-202 Method 210
• MIL-STD-202 Method 211
• MIL-STD-202 Method 213
• MIL-STD-202 Method 215
• MIL-STD-202F Method 102A
• MIL-STD-202H Method 103
• MIL-STD-202H Method 106
• MIL-STD-202H Method 107
• MIL-STD-202H Method 108
• MIL-STD-202H Method 204
• MIL-STD-202H Method 208
• MIL-STD-202H Method 210
• MIL-STD-202H Method 211
• MIL-STD-202H Method 215
• MIL-STD-220
• MIL-STD-461
• MIL-STD-750
• MIL-STD-750 Method 1037
• MIL-STD-750 Method 2006
• MIL-STD-750 Method 2017
• MIL-STD-750 Method 2036
• MIL-STD-750 Method 2037
• MIL-STD-750-1 M1038 ConditionB
• MIL-STD-750-1 M1038 MethodA
• MIL-STD-750-1 M1040 TestConditionA
• MIL-STD-810
• MIL-STD-810G
• MIL-STD-810H
• MIL-STD-883
• MIL-STD-883E 1004
• MIL-STD-883 Method 1008
• MIL-STD-883 Method 1010
• MIL-STD-883 Method 1014
• MIL-STD-883 Method 1018
• MIL-STD-883 Method 2001
• MIL-STD-883 Method 2009
• MIL-STD-883 Method 2011
• MIL-STD-883 Method 2012
• MIL-STD-883 Method 2019
• MIL-STD-883 Method 2020
• MIL-STD-883K Method 2009

• SAE J1113-2
• SAE J1113-4
• SAE J1113-13
• SAE J1113-22
• SAE J1113-24
• SAE J1113-25
• SAE J1113-41
• SAE J1113-42
• SAE J1885
• SAE J2412
• SAE J2527

• CISPR11
• CISPR12
• CISPR14-1
• CISPR14-2
• CISPR15
• CISPR16-2-1
  • EMC試験
• CISPR16-2-2
  • EMC試験
• CISPR16-2-3
  • EMC試験
• CISPR22
• CISPR24
• CISPR25
• CISPR32
• CISPR35

• EN 300 328
• EN 300 330
• EN 300 440
• EN 301 893
• EN 2233
• EN 13309
• EN 13355
• EN 14362-1
  • アゾ染料・顔料分析
• EN 14362-2
  • アゾ染料・顔料分析
• EN 50121-3-2
• EN 50121-4
• EN 50130-4
• EN 50581
• EN 55011
• EN 55012
• EN 55014-1
• EN 55014-2
• EN 55015
• EN 55016-2-1
  • EMC試験
• EN 55016-2-2
  • EMC試験
• EN 55016-2-3
  • EMC試験
• EN 55022
• EN 55024
• EN 55025
• EN 55032
• EN 55035
• EN 60068-2-60
• EN 60601-1-2
• EN 60601-2-2
• EN 60601-2-4
• EN 60601-2-5
• EN 60601-2-6
• EN 60601-2-10
• EN 60601-2-16
• EN 60601-2-18
• EN 60601-2-21
• EN 60601-2-24
• EN 60601-2-25
• EN 60601-2-26
• EN 60601-2-27
• EN 60601-2-30
• EN 60601-2-34
• EN 60601-2-35
• EN 60601-2-37
• EN 60601-2-40
• EN 60601-2-41
• EN 60601-2-46
• EN 60601-2-47
• EN 60601-2-49
• EN 60601-2-50
• EN 60601-2-52
• EN 60645-1
• EN 60945
• EN 61000-3-2
  • EMC試験
• EN 61000-3-3
  • EMC試験
• EN 61000-4-2
  • EMC試験
• EN 61000-4-3
  • EMC試験
• EN 61000-4-4
  • EMC試験
• EN 61000-4-5
  • EMC試験
• EN 61000-4-6
  • EMC試験
• EN 61000-4-8
  • EMC試験
• EN 61000-4-9
  • EMC試験
• EN 61000-4-11
  • EMC試験
• EN 61000-4-39
  • 近接磁界に対するイミュニティ試験
• EN 61000-6-1
• EN 61000-6-2
• EN 61000-6-3
• EN 61000-6-4
• EN 61000-6-7
• EN 61000-6-8
• EN 61131-2
• EN 61326-2-6
• EN 61326-3-1
• EN 61547
• EN 62233
• EN IEC 62311（Probe）
• EN 301489-1/-17
• EN 301489-1/-3

• EN IEC 61000-6-1
• EN IEC 61000-6-2
• EN IEC 61000-6-3
• EN IEC 61000-6-4
• EN IEC 61326-1
• EN IEC 61326-2-1
• EN IEC 61326-2-2
• EN IEC 61326-2-3
• EN IEC 61326-2-6

• GB 38031
• GB 4343.1
• GB 4824
• GB 4825
• GB 5296.4-1998
  • アゾ染料・顔料分析
• GB 17743
• GB 18401-2003
  • アゾ染料・顔料分析
• GB 18581-2020
• GB 18582-2020
• GB 38508-2020
• GB/T 9254.1

• KS C 9610 6-1
• KS C 9610 6-2
• KS C 9610 6-3
• KS C 9610 6-4
• KS C 9811
• KS C 9814-1
• KS C 9832
• KS C IEC 60601-1-2

• ISTA 1A
• ISTA 1B
• ISTA 1C
• ISTA 1D
• ISTA 1E
• ISTA 1G
• ISTA 1H
• ISTA 2A
• ISTA 2B
• ISTA 2C
• ISTA 3A
• ISTA 3B
• ISTA 3E
• ISTA 3F
• ISTA 6 AMAZON.COM-SIOC
• ISTA 7D

• ASTM B809
• ASTM C732
• ASTM D518
• ASTM D642
• ASTM D755
• ASTM D999
• ASTM D1149
• ASTM D1171
• ASTM D2565
• ASTM D3395
• ASTM D4169
• ASTM D4303
• ASTM D4332
• ASTM D4355
• ASTM D4434
• ASTM D4459
• ASTM D4575
• ASTM D4637
• ASTM D5071
• ASTM D6653
• ASTM D7386
• ASTM D7869
• ASTM D4728
• ASTM E2611-09
• ASTM G26

• JEITA ED4701
  • ラッチアップ試験
• JEITA ED4701/302A
  • ESD試験
• JEITA ED-4701/400A
• JEITA ED-4912A
• JEITA ET-7304A
  • ESD試験
• JEITA ET-7404
  • はんだぬれ性評価
• JEITA ET-7409/106A
• JEITA ET-7409/107
• JEITA ET-7410
  • ウィスカ試験

• AATCC Test Method 164
• AATCC 169
• ABS
• AMS2644 Revision G
• ANSI C63.4
• ANSI-ESDA-JEDEC-JS-001
  • CDM試験
• ANSI-ESDA-JEDEC-JS-002
  • CDM試験
• B.S Part903
• CCS
• CISPRJ 15
• CISPRJ 32
• CNS 13083
• CNS 15936
• CNS 13783-1
• DNV
• DIN 53509
• DIN 75220
• ECE R10
• ED-4701/100 試験方法105
• ED-4701/300 試験方法307
• EIA-364-65B
• EIA-469
• EIA-469-E
• EIA-977
• EIAJ ED-4701/100
  • 温度サイクル試験
• EIAJ ED-4701/200
  • 温湿度サイクル試験
• EIAJ ED-4701/300
  • 熱衝撃試験
• EIAJ ED-4701/400
  • 端子強度試験
• EIAJ ET-7401
  • はんだ濡れ性評価
• ESDA STM5.X
  • ESD試験
• FCC Part15 B
• FCC Part15 C
• FCC Part15 E
• FCC Part18
• GOST 6949-63
• IACS E10
• J55011
• J55014-1
• J55015-1
• J55022
• JCAA B004
• JEM1467
• J-STD-002
• J-STD-002E
• J-STD-020
• J-STD-035
• JTM G01
• JAXA-QTS-2010
• JPCA-ET09
• KN60945
• LR
• LV124
• LV124 K05
• LV124 K16
• LV148
• UL94
• UL94 V
• UN38.3
• VCCI技術基準
• VCCI-CISPR 32
• VCCI V-2
• YY 0505
• YY 9706.102
• 高周波利用機器
• 電気用品安全法
• 電気用品安全法 別表 第九
• 電気用品安全法 別表 第十 第九章
• 電波法施行規則
• 日本海事協会 7編1章